Nicomp 380系列納米激光粒度儀采用動態光散射原理檢測分析樣品體系的粒度分布。其主要用于檢測納米級別的體系和其他膠體體系，其粒徑檢測范圍0.3 nm-10μm。Nicomp 380系列對數據的分析不僅僅包括傳統的高斯（Gaussian）算法，還使用了patent的Nicomp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻的分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有*優勢，高分辨率的特性優于同類產品。Nicomp 380系列納米激光粒度儀采用execellent的工業模塊化設計，可靈活方便地擴展ZETA電位和其他功能，如：patent的自動稀釋系統、自動進樣系統、在線進樣系統、多角度檢測系統和各種激光器/檢測器。

此為英文版，后續會提供中文翻譯版本。